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【2h】

Limitations of on-wafer calibration and de-embedding methods in the sub-THz range

机译：晶片上校准和去嵌入方法的局限性在亚太赫兹范围内

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机译：国际观众

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Potereau, M.; Raya, C.; De Matos, M.; Fregonese, S.; Curutchet, A.; Zhang, M.; Ardouin, B.; Zimmer, T.;
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年度 2013
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1. Limitations of On-Wafer Calibration and De-Embedding Methods in the Sub-THz Range [J] . Manuel Potereau, Christian Raya, Magali De Matos, Journal of Computer and Communications . 2013,第6期

机译：亚太赫兹范围内的晶圆上校准和去嵌入方法的局限性
2. Comparison of On-Wafer TRL Calibration to ISS SOLT Calibration With Open-Short De-Embedding up to 500 GHz [J] . Fregonese Sebastien, Deng Marina, De Matos Magali, Terahertz Science and Technology, IEEE Transactions on . 2019,第1期

机译：晶圆上TRL校准与ISS SOLT校准以及高达500 GHz的开放式短解嵌比较
3. APPLYING LINE-SERIES-SHUNT CALIBRATION TO ONE-TIER ON-WAFER DEVICE DE-EMBEDDING UP TO MILLIMETER WAVES [J] . Chien-Chang Huang, Yu-Chuan Chen Microwave and optical technology letters . 2013,第4期

机译：将线串联抑制校准应用于单层晶圆上设备，以消除毫米波的影响
4. Importance of complete characterization setup on on-wafer TRL calibration in sub-THz range [C] . Chandan Yadav, Marina Deng, Magali De Matos, International Conference on Microelectronic Test Structures . 2018

机译：低于THz范围内完整的特性设置对晶圆上TRL校准的重要性
5. De-embedding Method Comparisons and Physics Based Circuit Model for High Frequency D-Probe [D] . Chen, Yuan. 2018

机译：高频D-探针的去嵌入方法比较和基于物理的电路模型
6. Assessing the performance of index calibration survey methods to monitor populations of wide‐ranging low‐density carnivores [O] . Egil Dröge, Scott Creel, Matthew S. Becker, 2020

机译：评估指标校准调查方法的性能以监测各种低密度食肉动物的种群
7. Limitations of on-wafer calibration and de-embedding methods in the sub-THz range [O] . Potereau, M., Raya, C., De Matos, M., 2013

机译：晶片上校准和去嵌入方法在亚太赫兹范围内的局限性

Limitations of on-wafer calibration and de-embedding methods in the sub-THz range

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